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深圳BGA测试架

[日期:2008-10-16] 来源:  作者: [字体: ]
BGA测试架
1、采用翻式或旋转式测试座,质量可靠,操作方便;
2、探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠而不会损坏锡球;
3、高精度的IC定位方法,保证IC定位精确,测试效率高;
4、采用浮板结构,有球无球的IC都可以测试。
  • 发信息者:xkbga
  • 联系方式:0755-29628289
  • 发布日期:2008-10-16 11:33:09
  • 有效期限:2009-4-17 11:33:09
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